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選對電子天平,和靜電煩惱說拜拜

點擊次數(shù):1136 更新時間:2023-04-23

靜電是一種常見的、自然發(fā)生的現(xiàn)象,但在研究實驗室中,包括在分析稱量過程中,它可以產(chǎn)生各種有害的影響。靜電會對稱量過程本身或結(jié)果產(chǎn)生不利影響,它們不僅會導致絕對重量不準確,還會導致漂移和重復性差,從而影響數(shù)據(jù)質(zhì)量,因此需要耗費時間的材料選擇或處理程序來應對這些問題。

帶有集成靜電中和技術(shù)的分析天平可以解決靜電煩惱,并確保各種分析稱重應用的準確性,是一種緊湊且有效的解決方案。Cubis® II 分析天平和半微量天平集成了電荷中和技術(shù),以實現(xiàn)準確的稱量性能。

cubis II MCA2.7s

靜電荷是如何形成的

電子逸出功是指一個電子離開金屬表面所需的能量。兩個物體之間的摩擦會引發(fā)離子形成,因此電子逸出功較低的物質(zhì)很容易給電子逸出功較高的物質(zhì)提供電子。在稱重過程中,樣品內(nèi)部或樣品與容器或皮重容器之間存在摩擦,會產(chǎn)生靜電。

靜電荷對分析稱重的影響

待稱重物質(zhì)與天平固定部位相互作用,因該部位與稱重盤(包括通風罩或底板)沒有導電連接,所以導致物質(zhì)表面電荷積聚,進而產(chǎn)生靜電力。這些靜電力可能會產(chǎn)生虛假絕對重量(即與實際重量顯著偏離),并影響稱重精度。當電荷通過稱量盤消散時,靜電力的變化會導致漂移,從而產(chǎn)生不一致的結(jié)果并降低重復性。

如果稱重容器和環(huán)境都帶負電,那么所產(chǎn)生的排斥力會將施加在天平上,從而產(chǎn)生比實際重量更重的虛假絕對重量。如果稱重容器和環(huán)境的電荷相反,所產(chǎn)生的吸引力將產(chǎn)生比實際重量更輕的虛假絕對重量。

靜電中和技術(shù)

賽多利斯 Cubis® II 采用了集成的電荷中和技術(shù),可有效去除樣品和容器中的電荷,從而實現(xiàn)更精確的分析稱重。


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